驗證與服務
奈米級濾心攔截效率測試服務 (Filter Efficiency Challenge Test) - 金奈米/PSL/SiO2 標準粒子驗證
產品編號: filter-testing-particle-retention-tests|濾效驗證
專業的濾心過濾效能驗證服務。提供 5nm 至 60nm 等級的金奈米粒子 (AuNP)、聚苯乙烯微球 (PSL) 與二氧化矽 (SiO2) 挑戰測試。透過高靈敏度偵測技術，精準計算濾心截留效率 (Retention Efficiency) 與 Log Reduction Value (LRV)，協助半導體與濾材廠定義真實過濾等級。